瀏覽數量: 39 作者: 本站編輯 發布時間: 2017-06-14 來源: 本站
(1)在外延片的均勻度得到控制以前,研發快速低成本芯片分選工藝和設備。
(2)隨著W級功率LED技術的發展,傳統LED產品參數檢測標準及測試方法已不能滿足照明應用的需要,須開發全新的測試標準和方法,包含更多的與照明相關的光學內容。
(3)在LED系統壽命測試中,研發LED系統的長期性能和壽命快速測定評價技術。
(4)照明用LED是處于大電流驅動下工作,這就對其提出更高的可靠性要求。傳統LED的篩選方式不合適照明用大功率LED,必須開發新的篩選試驗辦法,剔除早期失效品,保證產品的可靠性。